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Probe Card는 IC(Intergrated Circuit) 생산 공정 단계인 wafer 상에 형성 되어진 Chip의 기능을 조립 전에 검사하여 양품·불량품을 구분 판정하는 과정에서 LSI Tester와 접속된 Prober에 장착되어 Wafer에 각종 전기적인 Signal을 주고 받기 위한 초정밀 Interface용 소모성 치구입니다.
wafer 검사공정에서 사용되고 있는 기기 및 Probe Card등의 부적합으로 만약에 wafer상의 양품의 Chip를 불량으로 판단한다면 검사를 하는 목적이 없어지기 때문에 이러한 기기 및 Probe Card는 높은 성능과 신뢰성이 요구되고, 당사는 이에 대응하여 1986년9월부터 고도의 성능과 신뢰성이 있는 제품을 고객의 요구 사항에 따라 1,600Kpin/년 (13Kpin/월)의 생산 능력의 소량다품종의 생산라인을 갖추고 고객의 요구에 부응하고 있습니다. |
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