Home < Á¦Ç°Á¤º¸ < Á¦Ç°¼Ò°³
 
 
 
 
  Probe Card´Â IC(Intergrated Circuit) »ý»ê °øÁ¤ ´Ü°èÀÎ wafer »ó¿¡ Çü¼º µÇ¾îÁø ChipÀÇ ±â´ÉÀ» Á¶¸³ Àü¿¡ °Ë»çÇÏ¿© ¾çǰ¡¤ºÒ·®Ç°À» ±¸ºÐ ÆÇÁ¤ÇÏ´Â °úÁ¤¿¡¼­ LSI Tester¿Í Á¢¼ÓµÈ Prober¿¡ ÀåÂøµÇ¾î Wafer¿¡ °¢Á¾ Àü±âÀûÀÎ SignalÀ» ÁÖ°í ¹Þ±â À§ÇÑ ÃÊÁ¤¹Ð Interface¿ë ¼Ò¸ð¼º Ä¡±¸ÀÔ´Ï´Ù.
wafer °Ë»ç°øÁ¤¿¡¼­ »ç¿ëµÇ°í ÀÖ´Â ±â±â ¹× Probe CardµîÀÇ ºÎÀûÇÕÀ¸·Î ¸¸¾à¿¡ wafer»óÀÇ ¾çǰÀÇ Chip¸¦ ºÒ·®À¸·Î ÆÇ´ÜÇÑ´Ù¸é °Ë»ç¸¦ ÇÏ´Â ¸ñÀûÀÌ ¾ø¾îÁö±â ¶§¹®¿¡ ÀÌ·¯ÇÑ ±â±â ¹× Probe Card´Â ³ôÀº ¼º´É°ú ½Å·Ú¼ºÀÌ ¿ä±¸µÇ°í, ´ç»ç´Â ÀÌ¿¡ ´ëÀÀÇÏ¿© 1986³â9¿ùºÎÅÍ °íµµÀÇ ¼º´É°ú ½Å·Ú¼ºÀÌ ÀÖ´Â Á¦Ç°À» °í°´ÀÇ ¿ä±¸ »çÇ׿¡ µû¶ó 1,600Kpin/³â (13Kpin/¿ù)ÀÇ »ý»ê ´É·ÂÀÇ ¼Ò·®´ÙǰÁ¾ÀÇ »ý»ê¶óÀÎÀ» °®Ãß°í °í°´ÀÇ ¿ä±¸¿¡ ºÎÀÀÇϰí ÀÖ½À´Ï´Ù.